ビット幅調整機能を用いたデータパスのテスト容易化設計法に関する研究

ビット幅調整機能を用いたデータパスのテスト容易化設計法に関する研究

ビット ハバ チョウセイ キノウ オ モチイタ データ パス ノ テスト ヨウイカ セッケイホウ ニ カンスル ケンキュウ

村田優

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2005.3

学位論文

巻号情報

No. 刷年 所在 請求記号 資料ID 貸出区分 状況 予約人数

1

R003441

2

  • [IS]2005(13)

禁帯出

詳細情報

刊年

2005

別書名

Studies on a method of DFT for data paths using bit-match function

シリーズ名

奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科修士論文 ; 2005年3月

注記

学位記番号: 修第2846号

授与年月日: 2005/03/24

学位の種類: 修士(工学)

学生番号: 0351130

標題言語

日本語 (jpn)

本文言語

日本語 (jpn)

著者情報

村田, 優 (ムラタ, ユウ)

件名

レジスタ転送レベル

テスト容易化設計

ビット幅不均一データパス

ビット幅調整機能

完全故障検出効率