テイオン ポリシリコン ハクマク トランジスタ ノ レッカ メカニズム ノ カイセキ
金全健
生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2004.3
Thesis / Diss.| No. | Printing year | Location | Call Number | Material ID | Circulation class | Status | Waiting |
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1 |
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R003074 |
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2004
Degradation mechanism in low-temperature poly-Si TFT
奈良先端科学技術大学院大学物質創成科学研究科修士論文 ; 2004年3月
学位記番号: 修第2726号
授与年月日: 2004/03/24
学生番号: 0231025
Japan
Japanese (jpn)
Japanese (jpn)
金, 全健 (キン, ゼンケン)
