Studies on hierarchical two-pattern testability of controller-data path circuits, 要旨

Studies on hierarchical two-pattern testability of controller-data path circuits, 要旨

MD. Altaf-Ul-Amin

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2003.3

学位論文

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巻号情報

要旨
No. 刷年 所在 請求記号 資料ID 貸出区分 状況 予約人数

1

  • Abstract

R004619

詳細情報

刊年

2003

別書名

コントローラ・データパス回路の階層2パターン可検査性に関する研究

シリーズ名

奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科博士論文 ; 2003年3月

注記

学位記番号: 博第287号

報告番号: 甲第287号

授与年月日: 2003/03/24

学位の種類: 博士(工学)

標題言語

英語 (eng)

本文言語

英語 (eng)

著者情報

Altaf-Ul-Amin, Md