メモリの隣接パタン依存故障に対するマルチバックグラウンドマーチテストの自動生成

メモリの隣接パタン依存故障に対するマルチバックグラウンドマーチテストの自動生成

メモリ ノ リンセツ パタン イゾン コショウ ニ タイスル マルチ バック グラウンド マーチ テスト ノ ジドウ セイセイ

上岡真也

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2016.3

学位論文

巻号情報

No. 刷年 所在 請求記号 資料ID 貸出区分 状況 予約人数

1

電子化情報

R012580

2

  • [IS]2016(2)

禁帯出

詳細情報

刊年

2016

別書名

Automatic Multi-background March Test Generation for Neighborhood Pattern Sensitive Faults in Random Access Memories

シリーズ名

奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科修士論文 ; 2016年3月

注記

学位記番号: 修第6600号

学位授与年月日: 2016/03/24

学位の種類: 修士(工学)

学生番号: 1451017

標題言語

(jpn)

本文言語

(jpn)

著者情報

上岡, 真也 (ウエオカ, シンヤ)

件名

ランダムアクセスメモリ

メモリBIST

隣接パタン依存故障

マーチテスト