非同期式QDI回路のテスト法に関する研究

非同期式QDI回路のテスト法に関する研究

ヒドウキシキ QDI カイロ ノ テストホウ ニ カンスル ケンキュウ

内田行紀

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2012.3

Thesis / Diss.

Volume No.

No. Printing year Location Call Number Material ID Circulation class Status Waiting

1

R009003

2

  • [IS]2012(6)

Restricted

Details

Publication year

2012

Alternative title

Studies on Testing QDI Asynchronous Circuits

Series title

奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科修士論文 ; 2012年3月

Note

学位記番号: 修第5295号

学位授与年月日: 2012/3/23

学位の種類: 修士(工学)

学生番号: 1051016

Country of publication

Japan

Title language

Japanese (jpn)

Language of texts

Japanese (jpn)

Author information

内田, 行紀 (ウチダ, コウキ)

Subject

非同期式回路

Quasi-Delay-Insensitive

テスト容易化設計

テスト生成

同期-非同期変換