ゴクハク ゲート ゼツエンマク Si デンカイ コウカ ト トランジスタ ニ オケル ホット キャリア コウカ ト カイメン ブッセイ
本田博幸
生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2004.3
Thesis / Diss.| No. | Printing year | Location | Call Number | Material ID | Circulation class | Status | Waiting |
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1 |
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R003137 |
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2004
Hot carrier effect and electronic interface properties in Si MOSFET with ultra-thin gate oxide
奈良先端科学技術大学院大学物質創成科学研究科修士論文 ; 2004年3月
学位記番号: 修第2789号
授与年月日: 2004/03/24
学生番号: 0331079
Japan
Japanese (jpn)
Japanese (jpn)
本田, 博幸 (ホンダ, ヒロユキ)
