階層BISTのためのテスト容易化設計に関する研究

階層BISTのためのテスト容易化設計に関する研究

カイソウ BIST ノ タメノ テスト ヨウイカ セッケイ ニ カンスル ケンキュウ

山口賢一

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2003.3

Thesis / Diss.

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Volume No.

No. Printing year Location Call Number Material ID Circulation class Status Waiting

1

R002523

2

  • [IS]2003

Restricted

Details

Publication year

2003

Series title

奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科博士論文 ; 2003年3月

Note

学位記番号: 博第290号

報告番号: 甲第290号

授与年月日: 2003/03/24

学位の種類: 博士(工学)

Country of publication

Japan

Title language

Japanese (jpn)

Language of texts

Japanese (jpn)

Author information

山口, 賢一 (ヤマグチ, ケンイチ)

Subject

単一制御並行検査性

時分割単一制御並行可検査性

テスト容易化設計

階層BIST

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