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Defect Passivation using Low-Temperature Solution-Processed Hybrid Passivation for Highly Stable Oxide Thin-Film Transistors

Defect Passivation using Low-Temperature Solution-Processed Hybrid Passivation for Highly Stable Oxide Thin-Film Transistors

Binti Safaruddin Aimi Syairah

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2019.9

Thesis / Diss.

Volume No.

Total: 1
No. Printing year Location Call Number Material ID Circulation class Status Waiting

1

R016127

2

  • [MS]2019(1)

Restricted

Details

Publication year

2019

Alternative title

高安定性非晶質InZnO薄膜トランジスタへの応用を目指した溶液法かつ低温焼成型有機・無機ハイブリッド保護膜による酸化膜欠陥の改質

Series title

奈良先端科学技術大学院大学物質創成科学研究科修士論文 ; 2019年9月

Note

学位記番号: 修第8005号

学位授与年月日: 2019/09/30

学位の種類: 修士(工学)

Country of publication

Japan

Title language

English (eng)

Language of texts

English (eng)

Author information

Binti Safaruddin Aimi Syairah

Subject

Oxide Thin-film Transistors

Solution-processed

Hybrid Passivation