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メモリの隣接パタン依存故障に対するマルチバックグラウンドマーチテストの自動生成

メモリの隣接パタン依存故障に対するマルチバックグラウンドマーチテストの自動生成

メモリ ノ リンセツ パタン イゾン コショウ ニ タイスル マルチ バック グラウンド マーチ テスト ノ ジドウ セイセイ

上岡真也

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2016.3

Thesis / Diss.

Volume No.

Total: 1
No. Printing year Location Call Number Material ID Circulation class Status Waiting

1

Digital Library

R012580

2

  • [IS]2016(2)

Restricted

Details

Publication year

2016

Alternative title

Automatic Multi-background March Test Generation for Neighborhood Pattern Sensitive Faults in Random Access Memories

Series title

奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科修士論文 ; 2016年3月

Note

学位記番号: 修第6600号

学位授与年月日: 2016/03/24

学位の種類: 修士(工学)

学生番号: 1451017

Country of publication

Japan

Title language

Japanese (jpn)

Language of texts

Japanese (jpn)

Author information

上岡, 真也 (ウエオカ, シンヤ)

Subject

ランダムアクセスメモリ

メモリBIST

隣接パタン依存故障

マーチテスト