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LSIライフサイクル全般の信頼性向上のための組込み自己テストに関する研究

LSIライフサイクル全般の信頼性向上のための組込み自己テストに関する研究

LSI ライフサイクル ゼンパン ノ シンライセイ コウジョウ ノ タメ ノ クミコミ ジコ テスト ニ カンスル ケンキュウ

研究代表者井上美智子

[生駒] : [奈良先端科学技術大学院大学], 2013-2015

In-house publ.

Volume No.

Total: 4
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1

  • KAKENJ

R011126

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R011956

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R012845

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  • KAKENS

R013065

Details

Publication year

2013-2015

Alternative title

Research on Built-in Self-Test to Enhance LSI Reliability through its Lifecycle

科学研究費補助金実績報告書

科学研究費補助金成果報告書

科学研究費補助金(基盤研究(B))実績報告書

科学研究費補助金(基盤研究(B))成果報告書

平成25年度科学研究費補助金(基盤研究(B))実績報告書

平成26年度科学研究費補助金(基盤研究(B))実績報告書

平成27年度科学研究費補助金(基盤研究(B))実績報告書

平成25-27年度科学研究費補助金(基盤研究(B))成果報告書

Series title

科学研究費補助金(基盤研究(B))実績報告書

科学研究費補助金(基盤研究(B))研究成果報告書

Note

課題番号: 25280015

Country of publication

Japan

Title language

Japanese (jpn)

Language of texts

Japanese (jpn)

Author information

井上, 美智子 (イノウエ, ミチコ)

Subject

計算機システム

ディペダブル・コンピューティング

Number

KAKEN : 25280015