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偏光分析 CMOSイメージセンサとマイクロリアクタ用 in situ 不斉計測システムへの応用に関する研究

偏光分析 CMOSイメージセンサとマイクロリアクタ用 in situ 不斉計測システムへの応用に関する研究

ヘンコウ ブンセキ CMOS イメージ センサ ト マイクロ リアクタヨウ in situ フセイ ケイソク システム エノ オウヨウ ニ カンスル ケンキュウ

若間範充

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2014.3

Thesis / Diss.

Volume No.

Total: 2
No. Printing year Location Call Number Material ID Circulation class Status Waiting

1

R010658

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1

  • Abstract

R010707

Details

Publication year

2014

Alternative title

Application of in situ chiral analysis system using polarization-analyzing CMOS image sensor for micro-reactor systems

Series title

奈良先端科学技術大学院大学物質創成科学研究科博士論文 ; 2014年3月

Note

学位記番号: 博第1216号

報告番号: 甲第1216号

学位授与年月日: 2014/03/24

学位の種類: 博士(工学)

学生番号: 1141010

Country of publication

Japan

Title language

Japanese (jpn)

Language of texts

Japanese (jpn)

Author information

若間, 範充 (ワカマ, ノリミツ)

Subject

CMOS イメージセンサ

in situ 不斉計測

ワイヤーグリッド偏光子