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方位角スキャンRHEED-三次元逆格子マッピング法によるSi(001)表面上のMnシリサイド島の構造解析

方位角スキャンRHEED-三次元逆格子マッピング法によるSi(001)表面上のMnシリサイド島の構造解析

ホウイカク スキャン RHEED サンジゲン ギャクコウシ マッピングホウ ニ ヨル Si(001) ヒョウメンジョウ ノ Mnシリサイドトウ ノ コウゾウ カイセキ

木村明日香

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2013.3

Thesis / Diss.

Volume No.

Total: 1
No. Printing year Location Call Number Material ID Circulation class Status Waiting

1

R009927

2

  • [MS]2013(5)

Restricted

Details

Publication year

2013

Alternative title

Structure analysis of Mn-silicide islands grown on Si(001) surfaces using-scan three-dimensional reciprocal lattice mapping

Series title

奈良先端科学技術大学院大学物質創成科学研究科修士論文 ; 2013年3月

Note

学位記番号: 修第5829号

学位授与年月日: 2013/3/22

学位の種類: 修士(工学)

学生番号: 1131029

Country of publication

Japan

Title language

Japanese (jpn)

Language of texts

Japanese (jpn)

Author information

木村, 明日香 (キムラ, アスカ)

Subject

Si(001)

MnSi

RHEED

方位角スキャンRHEED

三次元逆格子マップ