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偏光分析CMOSセンサによるマイクロリアクタ統合型in situ不斉計測システムに関する研究

偏光分析CMOSセンサによるマイクロリアクタ統合型in situ不斉計測システムに関する研究

ヘンコウ ブンセキ CMOS センサ ニ ヨル マイクロリアクタ トウゴウガタ in situ フセイ ケイソク システム ニ カンスル ケンキュウ

松岡均

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2012.3

Thesis / Diss.

Volume No.

Total: 1
No. Printing year Location Call Number Material ID Circulation class Status Waiting

1

R009255

2

  • [MS]2012(13)

Restricted

Details

Publication year

2012

Alternative title

Development of microreactor-compatible in situ chiral analysis system using polarization-analyzing CMOS image sensor

Series title

奈良先端科学技術大学院大学物質創成科学研究科修士論文 ; 2012年3月

Note

学位記番号: 修第5536号

学位授与年月日: 2012/3/23

学位の種類: 修士(工学)

学生番号: 1031080

Country of publication

Japan

Title language

Japanese (jpn)

Language of texts

Japanese (jpn)

Author information

松岡, 均 (マツオカ, ヒトシ)

Subject

偏光計測

CMOSイメージセンサ

不斉計測

マイクロリアクタ