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光電子回折分光法による化合物半導体人工超格子の原子層分解電子状態解析

光電子回折分光法による化合物半導体人工超格子の原子層分解電子状態解析

コウデンシ カイセツ ブンコウホウ ニヨル カゴウブツ ハンドウタイ ジンコウ チョウコウシ ノ ゲンシソウ ブンカイ デンシ ジョウタイ カイセキ

研究代表者松井文彦

[生駒] : [奈良先端科学技術大学院大学], 2010-2011

In-house publ.

Volume No.

Total: 3
No. Printing year Location Call Number Material ID Circulation class Status Waiting

1

  • KAKENJ

R009611

No. Printing year Location Call Number Material ID Circulation class Status Waiting

1

  • KAKENJ

R009507

No. Printing year Location Call Number Material ID Circulation class Status Waiting

1

  • KAKENJ

R008771

Details

Publication year

2010-2011

Alternative title

Atomic layer resolved electronic structure analysis of compoundsemiconductor by photoelectron diffraction spectroscopy

科学研究費補助金実績報告書

科学研究費補助金(若手研究(B))実績報告書

平成22年度科学研究費補助金(若手研究(B))実績報告書

平成23年度科学研究費補助金(若手研究(B))実績報告書

科学研究費補助金研究成果報告書

平成22年度-平成23年度科学研究費補助金(若手研究(B))研究成果報告書

Series title

科学研究費補助金(若手研究(B))研究成果報告書 ; 平成22-23年度

Note

課題番号: 22740200

Country of publication

Japan

Title language

Japanese (jpn)

Language of texts

Japanese (jpn)

Author information

松井, 文彦 (マツイ, フミヒコ)

Subject

光電子回折

Auger電子回折

原子構造

局所電子状態

化合物半導体

放射光・軟X線

非弾性散乱過程

表面・界面

Number

KAKEN : 22740200