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偏光分析CMOSイメージセンサの高精度化とin situ不斉計測への応用

偏光分析CMOSイメージセンサの高精度化とin situ不斉計測への応用

ヘン コウ ブンセキ CMOS イメージセンサ ノ コウセイドカ ト in situ フセイ ケイソク エノ オウヨウ

藤岡侑司

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2011.3

Thesis / Diss.

Volume No.

Total: 1
No. Printing year Location Call Number Material ID Circulation class Status Waiting

1

R008519

2

  • [MS]2011(13)

Restricted

Details

Publication year

2011

Alternative title

High Precision of a polarization-analyzing CMOS image sensor and application for in stiu chiral measurement

Series title

奈良先端科学技術大学院大学物質創成科学研究科修士論文 ; 2011年3月

Note

学位記番号: 修第5195号

学位授与年月日: 2011/03/24

学位の種類: 修士(工学)

学生番号: 0931065

Country of publication

Japan

Title language

Japanese (jpn)

Language of texts

Japanese (jpn)

Author information

藤岡, 侑司 (フジオカ, ユウジ)

Subject

マイクロリアクタ

偏光

不斉計測

偏光分析CMOSイメージセンサ

メントール計測

インラインフローセル