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角度分解光電子分光法によるPb吸着Si(110)表面近傍の電子状態測定

角度分解光電子分光法によるPb吸着Si(110)表面近傍の電子状態測定

カクド ブンカイ コウデンシ ブンコウホウ ニヨル Pb キュウチャク Si(110) ヒョウメン キンボウ ノ デンシ ジョウタイ ソクテイ

山中佑一郎

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2010.3

Thesis / Diss.

Volume No.

Total: 1
No. Printing year Location Call Number Material ID Circulation class Status Waiting

1

R007739

2

  • [MS]2010(17)

Restricted

Details

Publication year

2010

Alternative title

Electron state of Pb/Si(110) surface measured by Angle-Resolved photoemission spectroscopy.

Series title

奈良先端科学技術大学院大学物質創成科学研究科修士論文 ; 2010年3月

Note

学位記番号: 修第4874号

学位授与年月日: 2010/03/24

学位の種類: 修士(工学)

学生番号: 0831093

Country of publication

Japan

Title language

Japanese (jpn)

Language of texts

Japanese (jpn)

Author information

山中, 佑一郎 (ヤマナカ, ユウイチロウ)

Subject

角度分解光電子分光