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少品種高信頼セルを用いた高信頼回路設計手法と信頼性評価手法

少品種高信頼セルを用いた高信頼回路設計手法と信頼性評価手法

ショウヒンシュ コウシンライ セル オ モチイタ コウシンライ カイロ セッケイ シュホウ ト シンライセイ ヒョウカ シュホウ

大賀健司

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2010.3

Thesis / Diss.

Volume No.

Total: 1
No. Printing year Location Call Number Material ID Circulation class Status Waiting

1

R007469

2

  • [IS]2010(6)

Restricted

Details

Publication year

2010

Alternative title

Design and Reliability Evaluation Methods of High Reliable Logic Circuit Using Highly Reliable Cells

Series title

奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科修士論文 ; 2010年3月

Note

学位記番号: 修第4604号

学位授与年月日: 2010/03/24

学位の種類: 修士(工学)

学生番号: 0851016

Country of publication

Japan

Title language

Japanese (jpn)

Language of texts

Japanese (jpn)

Author information

大賀, 健司 (オオガ, ケンジ)

Subject

高信頼論理回路

製造ばらつき

耐故障性

故障検出