コウヒンシツ チエン コショウ テスト ノ タメノ テスト パターン センタクホウ ナラビニ シード センタクホウ ニ カンスル ケンキュウ
竹谷啓
生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2010.3
Thesis / Diss.
| No. | Printing year | Location | Call Number | Material ID | Circulation class | Status | Waiting |
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1 |
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R007431 |
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2 |
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Restricted |
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2010
Studies on Test Pattern Selection and Seed Selection for High Quality Delay Test.
奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科修士論文 ; 2010年3月
学位記番号: 修第4566号
学位授与年月日: 2010/03/24
学位の種類: 修士(工学)
学生番号: 0851066
Japan
Japanese (jpn)
Japanese (jpn)
竹谷, 啓 (タケタニ, アキラ)
