ディペンダブル VLSI ノタメノ テスト ギジュツ
梶原誠司
生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2007.11
Lecture Archive
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V002136 |
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ＬＳＩの信頼性を保証する上で，製造テストは重要な役割を 果たしてきた．ＬＳＩのテスト技術は，主に設計・製造の立場 から技術開発が進んできたが，ＬＳＩの利用範囲が広がるにつ れて，企画や流通・運用におけるディペンダビリティも求めら れるようになっている．本講演では，ＬＳＩテスト技術の現状 とディペンダビリティ向上に向けた課題について，概説する．
2007
電子化映像資料(1時間24分25秒)
情報科学研究科・ゼミナール講演 ; 平成19年度
講演者所属: 九州工業大学情報工学部電子情報工学科教授
講演日: 平成19年11月2日
講演場所: 情報科学研究科大講義室
Japan
Japanese (jpn)
Japanese (jpn)
梶原, 誠司 (カジハラ, セイジ)
