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Studies on design for delay testability and over-testing reduction for delay faults

Studies on design for delay testability and over-testing reduction for delay faults

Yuki Yoshikawa

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2007.3

Thesis / Diss.

Volume No.

Total: 2
No. Printing year Location Call Number Material ID Circulation class Status Waiting

1

R005328

2

  • [IS]2007

Restricted

No. Printing year Location Call Number Material ID Circulation class Status Waiting

1

  • Abstract

R005501

Details

Publication year

2007

Alternative title

遅延テスト容易化設計ならびに遅延故障に対する過剰テストの緩和に関する研究

Series title

奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科博士論文 ; 2007年3月

Note

学位記番号: 博第634号

報告番号: 甲第634号

授与年月日: 2007/03/23

学位の種類: 博士(工学)

学生番号: 0561036

Country of publication

Japan

Title language

English (eng)

Language of texts

English (eng)

Author information

吉川, 祐樹 (ヨシカワ, ユウキ)

Subject

LSI testing

Delay fault

Design-for-testability

Over-testing

False path