タンイツ タンシ ヘンカ チエン テスト ニ モトズク データパス ノ テスト ヨウイカ セッケイ ニ カンスル ケンキュウ
吉川祐樹
生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2005.3
Thesis / Diss.
| No. | Printing year | Location | Call Number | Material ID | Circulation class | Status | Waiting |
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1 |
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R003454 |
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2 |
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Restricted |
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2005
Studies on Design for Testability Based on Single-Port-Change Delay Fault Testing for Data Paths
奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科修士論文 ; 2005年3月
学位記番号: 修第2854号
授与年月日: 2005/03/24
学位の種類: 修士(工学)
学生番号: 0351144
Japan
Japanese (jpn)
Japanese (jpn)
吉川, 祐樹 (ヨシカワ, ユウキ)
