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ビット幅調整機能を用いたデータパスのテスト容易化設計法に関する研究

ビット幅調整機能を用いたデータパスのテスト容易化設計法に関する研究

ビット ハバ チョウセイ キノウ オ モチイタ データ パス ノ テスト ヨウイカ セッケイホウ ニ カンスル ケンキュウ

村田優

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2005.3

Thesis / Diss.

Volume No.

Total: 1
No. Printing year Location Call Number Material ID Circulation class Status Waiting

1

R003441

2

  • [IS]2005(13)

Restricted

Details

Publication year

2005

Alternative title

Studies on a method of DFT for data paths using bit-match function

Series title

奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科修士論文 ; 2005年3月

Note

学位記番号: 修第2846号

授与年月日: 2005/03/24

学位の種類: 修士(工学)

学生番号: 0351130

Country of publication

Japan

Title language

Japanese (jpn)

Language of texts

Japanese (jpn)

Author information

村田, 優 (ムラタ, ユウ)

Subject

レジスタ転送レベル

テスト容易化設計

ビット幅不均一データパス

ビット幅調整機能

完全故障検出効率