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消費電力を考慮した連続可検査性に基づくシステムオンチップの面積オーバヘッドとテスト実行時間の相互最適化に関する研究

消費電力を考慮した連続可検査性に基づくシステムオンチップの面積オーバヘッドとテスト実行時間の相互最適化に関する研究

ショウヒ デンリョク オ コウリョシタ レンゾク カケンサセイ ニ モトズク システム オン チップ ノ メンセキ オーバヘッド ト テスト ジッコウ ジカン ノ ソウゴ サイテキカ ニ カンスル ケンキュウ

高桑寿一

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2004.3

Thesis / Diss.

Volume No.

Total: 1
No. Printing year Location Call Number Material ID Circulation class Status Waiting

1

R002820

2

  • [IS]2004(6)

Restricted

Details

Publication year

2004

Alternative title

Studies on the power-conscious area and time co-optimization for system-on-a-chip based on consecutive testability

Series title

奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科修士論文 ; 2004年3月

Note

学位記番号: 修第2467号

授与年月日: 2004/03/24

学位の種類: 修士(工学)

学生番号: 0251055

Country of publication

Japan

Title language

Japanese (jpn)

Language of texts

Japanese (jpn)

Author information

高桑, 寿一 (タカクワ, ヒサカズ)

Subject

システムオンチップ

テスト容易化設計

テストアクセス機構

テストスケジューリング

消費電力

連続可検査性