レンゾク カケンサセイ ニ モトズク システム オンチップ ノ メンセキ オーバヘッド ト テスト ジッコウ ジカン ノ ソウゴ サイテキカ ニ カンスル ケンキュウ
内山哲夫
生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2003.3
Thesis / Diss.
| No. | Printing year | Location | Call Number | Material ID | Circulation class | Status | Waiting |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
1 |
|
|
R002538 |
|
|
|
|
|
2 |
|
|
|
Restricted |
|
2003
Studies on area and time co-optimization for system-on-a-chip based on consecutive testability
奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科修士論文 ; 2003年3月
学位記番号: 修第2124号
授与年月日: 2003/03/24
学位の種類: 修士(工学)
学生番号: 0151014
Japan
Japanese (jpn)
Japanese (jpn)
内山, 哲夫 (ウチヤマ, テツオ)
