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Studies on hierarchical two-pattern testability of controller-data path circuits

Studies on hierarchical two-pattern testability of controller-data path circuits

MD. Altaf-Ul-Amin

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2003.3

Thesis / Diss.

Volume No.

Total: 2
No. Printing year Location Call Number Material ID Circulation class Status Waiting

1

R002505

2

  • [IS]2003

Restricted

No. Printing year Location Call Number Material ID Circulation class Status Waiting

1

  • Abstract

R004619

Details

Publication year

2003

Alternative title

コントローラ・データパス回路の階層2パターン可検査性に関する研究

Series title

奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科博士論文 ; 2003年3月

Note

学位記番号: 博第287号

報告番号: 甲第287号

授与年月日: 2003/03/24

学位の種類: 博士(工学)

Country of publication

Japan

Title language

English (eng)

Language of texts

English (eng)

Author information

Altaf-Ul-Amin, Md