コテイ セイギョ カケンサセイ ニ モトズク RTL カイロ ノ ヒスキャンテスト ヨウイカ セッケイ ホウ
永井慎太郎, 和田弘樹, 大竹哲史, 藤原秀雄
生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2002.2
In-house publ.
| No. | Printing year | Location | Call Number | Material ID | Circulation class | Status | Waiting |
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1 |
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R001987 |
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2002
14 p.
A non-scan DFT mathod for RTL circuits based on fixed-control testability
Information Science Technical Report ; TR2002002
Japan
Japanese (jpn)
Japanese (jpn)
永井, 慎太郎 (ナガイ, シンタロウ)
和田, 弘樹 (ワダ, ヒロキ)
大竹, 哲史 (オオタケ, サトシ)
藤原, 秀雄 (1946-) (フジワラ, ヒデオ) [ Huziwara, Hideo ] [ Fujiwara, Hideo ]
09199527
