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連続可検査性に基づくコアベース・システムオンチップのテスト容易化設計法に関する研究

連続可検査性に基づくコアベース・システムオンチップのテスト容易化設計法に関する研究

レンゾクカ ケンサセイ ニ モトヅク コアベース・システム オン チップ ノ テスト ヨウイカ セッケイホウ ニ カンスル ケンキュウ

米田友和

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2001.3

Thesis / Diss.

Volume No.

Total: 1
No. Printing year Location Call Number Material ID Circulation class Status Waiting

1

R001795

2

  • [IS]2001(7)

Restricted

Details

Publication year

2001

Series title

奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科修士論文 ; 2001年3月

Note

学位記番号: 修第1522号

授与年月日: 2001/03/23

学位の種類: 修士(工学)

学生番号: 9951205

Country of publication

Japan

Title language

Japanese (jpn)

Language of texts

Japanese (jpn)

Author information

米田, 友和 (ヨネダ, トモカズ)

Subject

テスト容易化設計

コアベース・システムオンチップ

テストアクセス機構

連続透明性

連続可検査性