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固定制御可検査性に基づくRTL回路の非スキャンテスト容易化設計法に関する研究

固定制御可検査性に基づくRTL回路の非スキャンテスト容易化設計法に関する研究

コテイ セイギョ カケンサセイ ニ モトヅク RTL カイロノ ヒスキャン テスト ヨウイカ セッケイホウ ニ カンスル ケンキュウ

永井慎太郎

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2000.3

Thesis / Diss.

Volume No.

Total: 1
No. Printing year Location Call Number Material ID Circulation class Status Waiting

1

R001284

2

  • [IS]2000(7)

Restricted

Details

Publication year

2000

Series title

奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科修士論文 ; 2000年3月

Note

学位記番号: 修第1297号

授与年月日: 2000/03/24

学位の種類: 修士(工学)

学生番号: 9851073

Country of publication

Japan

Title language

Japanese (jpn)

Language of texts

Japanese (jpn)

Author information

永井, 慎太郎 (ナガイ, シンタロウ)

Subject

レジスタ転送レベル回路

非スキャンテスト容易化設計

固定制御可検査性

階層テスト生成

テストプラン

テストプラン生成回路