Understanding and control of the effect of potential induced degradation in p-type crystalline silicon solar cells

Understanding and control of the effect of potential induced degradation in p-type crystalline silicon solar cells

Chung_Dong Nguyen

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2020.9

学位論文

巻号情報

全2件
No. 刷年 所在 請求記号 資料ID 貸出区分 状況 予約人数

1

R016592

No. 刷年 所在 請求記号 資料ID 貸出区分 状況 予約人数

1

  • Abstract

R016620

詳細情報

刊年

2020

別書名

p型結晶シリコン太陽電池における電圧誘起劣化(PID)の影響の理解と制御

シリーズ名

奈良先端科学技術大学院大学物質創成科学研究科博士論文 ; 2020年9月

注記

学位記番号: 博第1728号

報告番号: 甲第1728号

学位授与年月日: 2020/09/30

学位の種類: 博士(工学)

標題言語

英語 (eng)

本文言語

英語 (eng)

著者情報

Chung Dong Nguyen

件名

PID

PID recovery

Micro-crack

Silicon solar cell

PID delay effect

UV irradiation