円偏光二次元光電子回折法によるトポロジカル超伝導体CuxBi2Se3の結晶構造評価

円偏光二次元光電子回折法によるトポロジカル超伝導体CuxBi2Se3の結晶構造評価

エン ヘンコウ ニジゲン コウデンシ カイセツホウ ニ ヨル トポロジカル チョウデンドウタイ CuxBi2Se3 ノ ケッショウ コウゾウ ヒョウカ

荻昌史

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2019.3

学位論文

巻号情報

全1件
No. 刷年 所在 請求記号 資料ID 貸出区分 状況 予約人数

1

R015613

2

  • [MS]2018(5)

禁帯出

詳細情報

刊年

2019

別書名

Crystal Structure Characterization of Topological Superconductor CuxBi2Se3 by Circularly Polarized Two-Dimensional Photoelectron Diffraction

シリーズ名

奈良先端科学技術大学院大学物質創成科学研究科修士論文 ; 2019年3月

注記

学位記番号: 修第7916号

学位授与年月日: 2019/03/31

学位の種類: 修士(工学)

標題言語

日本語 (jpn)

本文言語

日本語 (jpn)

著者情報

荻, 昌史 (オギ, マサフミ)

件名

円偏光光電子回折

トポロジカル超電導体

CuxBi2Se3

光電子回折