Highly Reliable Memory Architectures Using Combination of In-Field Self-Repair, ECC and Aging Test

Highly Reliable Memory Architectures Using Combination of In-Field Self-Repair, ECC and Aging Test

Gian Paolo Topico Mayuga

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2016.9

学内論文

巻号情報

全2件
No. 刷年 所在 請求記号 資料ID 貸出区分 状況 予約人数

1

電子化情報

R013151

No. 刷年 所在 請求記号 資料ID 貸出区分 状況 予約人数

1

電子化情報

  • Abstract

R013177

詳細情報

刊年

2016

別書名

フィールドでの自己修復、誤り訂正、劣化検知を組み合わせた高信頼メモリアーキテクチャ

シリーズ名

奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科博士論文 ; 2016年9月

注記

学位記番号: 博第1372号

報告番号: 甲第1372号

学位授与年月日: 2016/09/26

学位の種類: 博士(工学)

学生番号: 1361204

標題言語

(eng)

本文言語

(eng)

著者情報

Gian Paolo Topico Mayuga

件名

memory repair

memory reliability

in-field test and repair

ECC

in-field repair strategy

aging-aware