組合せテスト生成可能な拡張部分スキャン設計に関する研究

組合せテスト生成可能な拡張部分スキャン設計に関する研究

クミアワセ テスト セイセイ カノウ ナ カクチョウブブン スキャン セッケイ ニ カンスル ケンキュウ

高崎智也

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 1997.3

学位論文

巻号情報

全1件
No. 刷年 所在 請求記号 資料ID 貸出区分 状況 予約人数

1

R000565

2

  • [IS]1997(6)

禁帯出

詳細情報

刊年

1997

シリーズ名

奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科修士論文 ; 1997年3月

注記

学位記番号: 修第413号

授与年月日: 1997/03/24

学位の種類: 修士(工学)

学生番号: 9551057

標題言語

日本語 (jpn)

本文言語

日本語 (jpn)

著者情報

高崎, 智也 (タカサキ, トモヤ)

件名

順序回路

テスト生成

内部平衡構造

バイパスフリップフロップ

拡張部分スキャン