FPGA向けアプリケーション依存テストのためのメモリ・ブロックを用いたスキャンBISTアーキテクチャ

FPGA向けアプリケーション依存テストのためのメモリ・ブロックを用いたスキャンBISTアーキテクチャ

FPGAムケ アプリケーション イゾン テスト ノ タメ ノ メモリ ブロック オ モチイタ スキャン BIST アーキテクチャ

伊藤渓太

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2014.3

学位論文

巻号情報

全1件
No. 刷年 所在 請求記号 資料ID 貸出区分 状況 予約人数

1

電子化情報

R010743

2

  • [IS]2014(2)

禁帯出

詳細情報

刊年

2014

別書名

Memory Block Based Scan-BIST Architecture for Application-Dependent FPGA Testing

シリーズ名

奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科修士論文 ; 2014年3月

注記

学位記番号: 修第5922号

学位授与年月日: 2014/03/24

学位の種類: 修士(工学)

学生番号: 1251010

標題言語

(jpn)

本文言語

(jpn)

著者情報

伊藤, 渓太 (イトウ, ケイタ)

件名

FPGA

BIST

テストポイント挿入

遅延テスト

テスト容易化設計