Marie Engelene J. Obien
生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2011.3
1
R008554
R008599
2011
機能RTL回路のFスキャンテスト容易化設計法に関する研究
奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科博士論文 ; 2011年3月
学位記番号: 博第981号
学位授与年月日: 2011/03/24
学位の種類: 博士(工学)
学生番号: 0861209
英語 (eng)
Obien Engelene Jimenez, Marie
scan-based design for testability
functional register transfer level circuits
automatic test pattern generation
high level testing
delay fault testing
assignment decision diagrams
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