コウセイド チエン テスト ノ タメノ テスト パターン セイセイホウ
堀慧悟
生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2011.3
1
R008253
2
禁帯出
2011
Test Pattern Generation for Highly Accurate Delay Testing
奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科修士論文 ; 2011年3月
学位記番号: 修第4923号
学位授与年月日: 2011/03/24
学位の種類: 修士(工学)
学生番号: 0951109
日本語 (jpn)
堀, 慧悟 (ホリ, ケイゴ)
遅延テスト
テスト応答マスク
微小遅延欠陥
劣化
フィールドテスト
遅延テストテスト応答マスク微小遅延欠陥劣化フィールドテスト
