円偏光光電子回折分光によるSiC表面上グラフェンのエッジ観測

円偏光光電子回折分光によるSiC表面上グラフェンのエッジ観測

エン ヘンコウ コウデンシ カイセツ ブンコウ ニヨル SiC ヒョウメンジョウ グラフェン ノ エッジ カンソク

西嘉山徳之

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2010.3

学位論文

巻号情報

全1件
No. 刷年 所在 請求記号 資料ID 貸出区分 状況 予約人数

1

R007712

2

  • [MS]2010(12)

禁帯出

詳細情報

刊年

2010

別書名

Analysis of edge region of graphene grown on SiC surface by circularly-polarized-light photoelectron diffraction spectroscopy

シリーズ名

奈良先端科学技術大学院大学物質創成科学研究科修士論文 ; 2010年3月

注記

学位記番号: 修第4847号

学位授与年月日: 2010/03/24

学位の種類: 修士(工学)

学生番号: 0831061

標題言語

日本語 (jpn)

本文言語

日本語 (jpn)

著者情報

西嘉山, 徳之 (ニシカヤマ, ノリユキ)

件名

グラフェン

エッジ

SiC

円偏光光電子回折