Classification of sequential circuits based on acyclic test generation complexity

Classification of sequential circuits based on acyclic test generation complexity

Chia Yee Ooi and Hideo Fujiwara

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2006.7

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No. 刷年 所在 請求記号 資料ID 貸出区分 状況 予約人数

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R004337

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詳細情報

刊年

2006

形態

32 p.

シリーズ名

Information Science Technical Report ; TR2006004

標題言語

英語 (eng)

本文言語

英語 (eng)

著者情報

Ooi, Chia Yee

藤原, 秀雄 (1946-) (フジワラ, ヒデオ) [ Huziwara, Hideo ] [ Fujiwara, Hideo ]

ISSN

09199527

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