システムオンチップのテストアーキテクチャとテスト容易化設計に関する基礎研究

システムオンチップのテストアーキテクチャとテスト容易化設計に関する基礎研究

目次あり

システムオンチップ ノ テスト アーキテクチャ ト テスト ヨウイカ セッケイ ニ カンスル キソ ケンキュウ

研究代表者藤原秀雄

[生駒] : [奈良先端科学技術大学院大学], 2004-2007

学内論文

巻号情報

全3件
No. 刷年 所在 請求記号 資料ID 貸出区分 状況 予約人数

1

  • KAKENS

R006544

2

図書館

  • KAKENB
  • 2007
  • 1

0038771

一般

No. 刷年 所在 請求記号 資料ID 貸出区分 状況 予約人数

1

  • KAKENJ

R005561

No. 刷年 所在 請求記号 資料ID 貸出区分 状況 予約人数

1

  • KAKENJ

R004102

詳細情報

刊年

2004-2007

別書名

科学研究費補助金実績報告書

科学研究費補助金(基盤研究(B))実績報告書

平成17年度科学研究費補助金(基盤研究(B))実績報告書

平成18年度科学研究費補助金(基盤研究(B))実績報告書

科学研究費補助金(基盤研究(B))研究成果報告書

平成15年度-平成18年度科学研究費補助金(基盤研究(B))研究成果報告書

シリーズ名

科学研究費補助金基盤研究(B)研究成果報告書 ; 平成15-18年度

注記

課題番号:15300018

標題言語

日本語 (jpn)

本文言語

英語 (eng) ; 日本語 (jpn)

著者情報

藤原, 秀雄 (1946-) (フジワラ, ヒデオ) [ Huziwara, Hideo ] [ Fujiwara, Hideo ]

件名

システムオンチップ

テスト容易化設計

連続可検査

連続透明

テストアーキテクチャ

テストアクセス機構

相互最適化

コアベース設計

NCID

BA82291496

番号

KAKEN : 15300018