角度分解光電子分光によるSi(111)5×5-Geの電子状態の研究

角度分解光電子分光によるSi(111)5×5-Geの電子状態の研究

カクド ブンカイコウ デンシ ブンコウ ニヨル Si(111)5×5-Ge ノ デンシ ジョウタイ ノ ケンキュウ

西出昌弘

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2006.3

学位論文

巻号情報

全1件
No. 刷年 所在 請求記号 資料ID 貸出区分 状況 予約人数

1

R004020

2

  • [MS]2006(11)

禁帯出

詳細情報

刊年

2006

別書名

Study of the electronic state on Si(111)5×5-Ge by Angle-Resolved Photoelectron Spectroscopy

シリーズ名

奈良先端科学技術大学院大学物質創成科学研究科修士論文 ; 2006年3月

注記

学位記番号: 修第3453号

授与年月日: 2006/03/24

学位の種類: 修士(工学)

学生番号: 0431058

標題言語

日本語 (jpn)

本文言語

日本語 (jpn)

著者情報

西出, 昌弘 (ニシデ, マサヒロ)

件名

角度分解光電子分光

シリコン

ゲルマニウム

表面