電子常磁性共鳴法によるZnO薄膜中の欠陥の解析

電子常磁性共鳴法によるZnO薄膜中の欠陥の解析

デンシ ジョウジセイ キョウメイホウ ニヨル ZnO ハクマクチュウ ノ ケッカン ノ カイセキ

佐藤大剛

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2006.3

学位論文

巻号情報

全1件
No. 刷年 所在 請求記号 資料ID 貸出区分 状況 予約人数

1

R004008

2

  • [MS]2006(7)

禁帯出

詳細情報

刊年

2006

別書名

Analysis of defect in ZnO thin film by electro paramagnetic resonance

シリーズ名

奈良先端科学技術大学院大学物質創成科学研究科修士論文 ; 2006年3月

注記

学位記番号: 修第3432号

授与年月日: 2006/03/24

学位の種類: 修士(工学)

学生番号: 0431034

標題言語

日本語 (jpn)

本文言語

日本語 (jpn)

著者情報

佐藤, 大剛 (サトウ, ダイゴウ)

件名

EPR

ZnO

ESR

electro paramagnetic resonace

thin film

elipso