詳細情報

刊年

2006

別書名

システムオンチップのテスト回路面積とテスト実行時間を低減するテスト容易化設計法に関する研究

シリーズ名

奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科博士論文 ; 2006年3月

注記

学位記番号: 博第568号

報告番号: 甲第568号

授与年月日: 2006/03/24

学位の種類: 博士(工学)

学生番号: 0361213

標題言語

英語 (eng)

本文言語

英語 (eng)

著者情報

宮崎, 政英 (ミヤザキ, マサヒデ)

件名

SoC

test scheduling

test access mechanism

wrapper

design for test

memory BIST