低温ポリシリコン薄膜トランジスタの発熱劣化メカニズムの解明

低温ポリシリコン薄膜トランジスタの発熱劣化メカニズムの解明

テイオンポリシリコンハクマクトランジスタノハツネツレッカメカニズムノカイメイ

北島浩司

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2005.3

学位論文

巻号情報

全1件
No. 刷年 所在 請求記号 資料ID 貸出区分 状況 予約人数

1

R003482

2

  • [MS]2005(5)

禁帯出

詳細情報

刊年

2005

別書名

Thermal Degradation of Low Temperature Poly-Si TFT

シリーズ名

奈良先端科学技術大学院大学物質創成科学研究科修士論文 ; 2005年3月

注記

学位記番号: 修第3079号

授与年月日: 2005/03/24

学生番号: 0331021

標題言語

日本語 (jpn)

本文言語

日本語 (jpn)

著者情報

北島, 浩司 (キタジマ, コウジ)

件名

Thermal

Degradation

Poly-Si

TFT