Acceleration of transition test generation for acyclic sewuential circuits utilizing constrained combinational stuck-at test generation

Acceleration of transition test generation for acyclic sewuential circuits utilizing constrained combinational stuck-at test generation

Tsuyoshi Iwagaki, Satoshi Ohtake, Hideo Fujiwara

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2004.12

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No. 刷年 所在 請求記号 資料ID 貸出区分 状況 予約人数

1

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R003223

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詳細情報

刊年

2004

形態

9 p.

シリーズ名

Information Science Technical Report ; TR2004009

標題言語

英語 (eng)

本文言語

英語 (eng)

著者情報

岩垣, 剛 (イワガキ, ツヨシ)

大竹, 哲史 (オオタケ, サトシ)

藤原, 秀雄 (1946-) (フジワラ, ヒデオ) [ Huziwara, Hideo ] [ Fujiwara, Hideo ]

ISSN

09199527

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