ゴクハク ゲート ゼツエンマク Si デンカイ コウカ ト トランジスタ ニ オケル ホット キャリア コウカ ト カイメン ブッセイ
本田博幸
生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2004.3
学位論文2004
Hot carrier effect and electronic interface properties in Si MOSFET with ultra-thin gate oxide
奈良先端科学技術大学院大学物質創成科学研究科修士論文 ; 2004年3月
学位記番号: 修第2789号
授与年月日: 2004/03/24
学生番号: 0331079
日本語 (jpn)
日本語 (jpn)
本田, 博幸 (ホンダ, ヒロユキ)
