微小電極を用いた半導体表面電気伝導度のin situ測定

微小電極を用いた半導体表面電気伝導度のin situ測定

ビショウ デンキョク オ モチイタ ハンドウタイ ヒョウメン デンキ デンドウド ノ in situ ソクテイ

赤田修一

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2004.3

学位論文

巻号情報

全1件
No. 刷年 所在 請求記号 資料ID 貸出区分 状況 予約人数

1

R003054

2

  • [MS]2004(1)

禁帯出

詳細情報

刊年

2004

別書名

Semiconductor surface electrical conduction in situ measurements using microelectrod

シリーズ名

奈良先端科学技術大学院大学物質創成科学研究科修士論文 ; 2004年3月

注記

学位記番号: 修第2706号

授与年月日: 2004/03/24

学生番号: 0231002

標題言語

日本語 (jpn)

本文言語

日本語 (jpn)

著者情報

赤田, 修一 (アカダ, シュウイチ)

件名

表面電気伝導度

4端子電極

in situ測定