カイソウ BIST ノ タメノ テスト ヨウイカ セッケイ ニ カンスル ケンキュウ
山口賢一
生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2003.3
1
R002523
2
禁帯出
R004622
2003
奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科博士論文 ; 2003年3月
学位記番号: 博第290号
報告番号: 甲第290号
授与年月日: 2003/03/24
学位の種類: 博士(工学)
日本語 (jpn)
山口, 賢一 (ヤマグチ, ケンイチ)
単一制御並行検査性
時分割単一制御並行可検査性
テスト容易化設計
階層BIST
レジスタ転送レベル
単一制御並行検査性時分割単一制御並行可検査性テスト容易化設計階層BISTレジスタ転送レベル
