階層テスト生成に基づくレジスタ転送レベル回路の非スキャンテスト容易化設計法に関する研究

階層テスト生成に基づくレジスタ転送レベル回路の非スキャンテスト容易化設計法に関する研究

カイソウ テスト セイセイ ニ モトズク レジスタ テンソウ レベル カイロ ノ ヒスキャン テスト ヨウイカ セッケイホウ ニ カンスル ケンキュウ

永井慎太郎

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2003.3

学位論文

巻号情報

全2件
No. 刷年 所在 請求記号 資料ID 貸出区分 状況 予約人数

1

R002517

2

  • [IS]2003

禁帯出

No. 刷年 所在 請求記号 資料ID 貸出区分 状況 予約人数

1

  • Abstract

R004617

詳細情報

刊年

2003

シリーズ名

奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科博士論文 ; 2003年3月

注記

学位記番号: 博第285号

報告番号: 甲第285号

授与年月日: 2003/03/24

学位の種類: 博士(工学)

標題言語

日本語 (jpn)

本文言語

日本語 (jpn)

著者情報

永井, 慎太郎 (ナガイ, シンタロウ)

件名

レジスタ転送レベル

テスト容易化設計

固定制御可検査性

階層テスト生成

データフローグラフ