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メモリの隣接パタン依存故障に対するマルチバックグラウンドマーチテストの自動生成 PDF

メモリ ノ リンセツ パタン イゾン コショウ ニ タイスル マルチ バック グラウンド マーチ テスト ノ ジドウ セイセイ

上岡真也

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2016.3

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Holdings:
  Volume Printing year Location Call Number Material ID Circulation class Status Waiting
1 PDF   Digital Library   R012580   0
  Library (Stack) [IS]2016(2)   Restricted
Publication year : 2016
Alternative title :

Automatic Multi-background March Test Generation for Neighborhood Pattern Sensitive Faults in Random Access Memories

Series title :

奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科修士論文 ; 2016年3月

Note :

学位記番号: 修第6600号

学位授与年月日: 2016/03/24

学位の種類: 修士(工学)

学生番号: 1451017

Country of publication : Japan
Title language : Japanese (jpn)
Language of texts : Japanese (jpn)
Author information :

上岡, 真也 (ウエオカ, シンヤ)

Subject :

ランダムアクセスメモリ

メモリBIST

隣接パタン依存故障

マーチテスト