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メモリの隣接パタン依存故障に対するマルチバックグラウンドマーチテストの自動生成 PDF

メモリ ノ リンセツ パタン イゾン コショウ ニ タイスル マルチ バック グラウンド マーチ テスト ノ ジドウ セイセイ

上岡真也

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2016.3

この資料の関連情報

所蔵:
  巻号 刷年 所在 請求記号 資料ID 貸出区分 状況 予約人数
1 PDF   電子化情報   R012580   0
  書庫 [IS]2016(2)   禁帯出
刊年 : 2016
別書名 :

Automatic Multi-background March Test Generation for Neighborhood Pattern Sensitive Faults in Random Access Memories

シリーズ名 :

奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科修士論文 ; 2016年3月

注記 :

学位記番号: 修第6600号

学位授与年月日: 2016/03/24

学位の種類: 修士(工学)

学生番号: 1451017

標題言語 : (jpn)
本文言語 : (jpn)
著者情報 :

上岡, 真也 (ウエオカ, シンヤ)

件名 :

ランダムアクセスメモリ

メモリBIST

隣接パタン依存故障

マーチテスト