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スキャンテストパタンに対するスイッチング分布を考慮した高精度IRドロップ見積り PDF

スキャン テストパタン ニ タイスル スイッチング ブンプ オ コウリョ シタ コウセイド IR ドロップ ミツモリ

水谷早苗

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2016.3

この資料の関連情報

所蔵:
  巻号 刷年 所在 請求記号 資料ID 貸出区分 状況 予約人数
1 PDF   電子化情報   R012652   0
  書庫 [IS]2016(7)   禁帯出
刊年 : 2016
別書名 :

A Swithching-Distribution-Aware Accurate IR-Drop Estimation for Scan Test Patterns

シリーズ名 :

奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科修士論文 ; 2016年3月

注記 :

学位記番号: 修第6679号

学位授与年月日: 2016/03/24

学位の種類: 修士(工学)

学生番号: 1451102

標題言語 : (jpn)
本文言語 : (jpn)
著者情報 :

水谷, 早苗 (ミズタニ, サナエ)

件名 :

IRドロップ

スキャンテスト

電力考慮テスト